平台作为学院对外共享服务平台，为学校“双一流”建设提供了坚实的技术支撑和保障。平台不仅为校内学科建设提供了重要技术支撑，也通过不断提升专业技术人员服务水平、借鉴国内外相关机构对仪器运行管理的经验，在满足校内教学科研工作需要之外，积极为其他高校、企事业单位提供相关分析测试服务。目前，平台对外共享服务的范围主要为半导体材料物性分析，包括表面形貌、化学成分、元素含量、晶体结构、薄膜厚度及透/反射率、光电探测器性能等。

技术参数：

激光波长：488nm

激光功率：约40mw

光谱最大分辨率：0.9cm^-1

最大扫描波数范围：100-7900cm^-1

可做单点扫描，线区扫描和面积扫描，最大扫描范围1cm*1cm

应用范围： 材料样品化学成分与物理特性分析

仪器管理员：洪老师  0592-2180312

透射电子显微镜

技术参数：

型号：日本电子JEM-1400

加速电压：40kV~120kV

常用倍数范围：5000~200000

钨灯丝或LaB6灯丝

应用范围：主要用于生物样品、高分析材料的高反差形貌观察和微区的晶体结构，无选区衍射，无能谱分析。禁止用于磁性和粉末状的样品测试。

仪器管理员：王老师  0592-2180312

扫描探针显微镜

技术参数：

检测系统：光杠杆方式   半导体激光(670nm/40uW)

分辨能力：面内0.2nm，垂直0.01nm

样品尺寸：最大Φ35mm*10mm

样品移动机构：X-Y （±2.5mm）

X、Y最大扫描范围：20um/z  最大测量范围：1um

应用范围：材料样品表面微观形貌观察和粗糙度分析

仪器管理员：林老师  0592-2180312

扫描电子显微镜

技术参数：

二次电子图象分辨率：1.2nm@15kV

加速电压：0.02kV~30kV

放大倍数：10-1,000,000 x

电子光学：场发射

探测器：4pA-20nA

应用范围：材料形貌分析、能谱分析，提供最高分辨率和衬度，满足材料研究需要卓越的性能，更高的准确度

仪器管理员：郭老师  0592-2182458

X射线单晶薄膜衍射仪

技术参数：

X光管最大功率：3kW

测角仪最小步长：± 0.0001 ^o

样品台具有（X,Y.Z.Phi,Chi）五个自由度

应用范围：晶格参数、失配、应力、外延薄膜的厚度、材料化学配比、晶粒尺寸

仪器管理员：徐老师  0592-2180312

小角X射线散射仪

技术参数：

SAXS是在原光束附近小角度范围内（＜3~5°）电子对X射线发生的散射现象，它是研究物质在纳米尺度上（1~100nm）的几何结构的主要手段之一。

应用范围：纳米材料（形核生长、粒度与分布）；聚合物（结晶过程、外场诱导作用）；生物体系（蛋白形状、初级相位、生理环境）；医药体系（药理、界面）；其他体系（多尺度分级结构、天然/人工复合材料）

仪器管理员：王老师  0592-2180312

自制显微紫外光谱系统

技术参数：

电流测量量程：1pA-100mA

光源：450瓦氙灯

光谱范围：200nm~1000nm

应用范围：与450瓦氙灯系统、半导体参数分析仪或静电计表、标准光绝对量测试系统筹组成完整的光电探测器测试系统，可用于已封装或未封装的光电探测器特性测试，包括光电探测器的暗电流、光谱响应等

仪器管理员：吴老师  0592-2180312

紫外可见分光光度计

技术参数：

波长范围：200~900nm；带宽：0.01~5nm，0.01nm间隔自动调节

杂散光：≤0.00007%T（220nm，10g/L Nal ASTM）；≤0.00007%T（370nm，50mg/L  NaNO₂  ASTM）

波长准确度：≤±0.08nm；波长重复性：≤±0.005nm；光度准确性：±0.0003A（0.5Abs双光阑法）

光度重复性：±0.00008A（0.5A使用NIST  930D滤光片在546.1-nm（十次测量标准偏差））

光度范围：± 8A，光度显示范围：没有限制；分辨率：优于0.05nm

仪器噪声：≤0.00005A(0A在500nm处)：≤0.0002A（2A在500nm处)

积分球：≥150mm.光学聚四氟乙烯(Spectralon)内壁涂层．内置R955型光电倍增管检测器，包含两个聚四氟乙烯（Spectralon）漫反射白板和透射、反射样品夹具

应用范围：薄膜、固体样品反射率、透射率、吸光度

仪器管理员：杨老师  0592-2187737

平台联系人：戴老师

平台联系电话：0592-2188787

平台网址：http://www.xmps-net.org.cn:8899/ius.asp